Выпущен новый рефлектометр высокого разрешения

Корпорация Yokogawa Test & Measurement Corporation выпустила рефлектометр высокого разрешения AQ7420. Используя технологию OLCR (оптическая низкокогерентная рефлектометрия), устройство идеально подходит для анализа внутренней структуры оптических модулей и визуализации микротрещин в оптических разъемах. Оно обеспечивает пространственное разрешение 40 мкм и превосходную чувствительность измерения обратного отражения до -100 дБ или ниже, без паразитного шума. В сочетании с дополнительным блоком головки датчика пользователи могут измерять вносимые потери одновременно с обратным отражением, что делает устройство высокоэффективным и экономичным рефлектометром для приложений на оптическом рынке.

Компания постоянно прислушивается к отзывам клиентов и тенденциям отрасли, разрабатывая новые инновации в соответствии с эволюцией рынка. Она узнала о нескольких новых требованиях, которые не могли быть удовлетворены существующими рыночными решениями. Они включали еще большее снижение паразитного шума, одновременное измерение обратного отражения и вносимых потерь, повышенную стабильность измеряемых форм сигналов и более быстрое время измерения. Целью было разработать новое решение, которое могло бы удовлетворить эти потребности, что привело к появлению нового рефлектометра высокого разрешения. Доступны две модели: одноволновая (1310 нм) и двухволновая (1310 нм и 1550 нм).

Также выпущено управляющее программное обеспечение для Windows 11, дополнительная специальная сенсорная головка для измерения потерь, различные мастер-коды (совместимые с несколькими типами разъемов) и код регулировки расстояния для настройки начального положения измерения.

Среди основных новых функций — способность устройства снижать паразитный шум. В обычных устройствах на основе технологии OLCR/OFDR паразитный (фантомный) шум часто наблюдается в областях, где нет фактического отражения (в зависимости от характеристик оборудования), что приводит к неверным суждениям. Правильный анализ формы сигнала в значительной степени зависит от пользователей, обладающих специальными знаниями в таких ситуациях. Напротив, новое устройство оснащено технологией, которая значительно снижает паразитный шум, с простотой анализа среди его основных характеристик.

Еще одной особенностью является возможность одновременного измерения обратного отражения и вносимых потерь. Обычные приборы OLCR/OFDR часто не способны точно определить величину обратного отражения из-за низкой точности измерения вертикальной оси (величины уровня отражения). Рефлектометр решает эту проблему, позволяя проводить измерения с погрешностью ±3 дБ. Кроме того, используя преимущества оптической сенсорной головки, пользователи могут одновременно измерять вносимые потери с погрешностью ±0,02 дБ.

Еще одной важной особенностью является более быстрое время измерения. По сравнению с предыдущим поколением продукта (AQ7410), время измерения нового рефлектометра высокого разрешения AQ7420 примерно на 50% быстрее, примерно шесть секунд, по сравнению с 12 секундами ранее.

Области применения включают определение количества и местоположения отражений внутри оптических разъемов и оптических модулей с высокой точностью, а также визуализацию микротрещин внутри оптических разъемов, которые невозможно увидеть с помощью методов измерения потерь.